現(xiàn)今國(guó)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 按環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備所模擬的環(huán)境因素，大致可分為：氣候環(huán)境設(shè)備（含生物環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備）、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備、氣候機(jī)械綜合環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備和其他環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備等。
但環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備仍是一種精密、貴重設(shè)備,正確使用和操作環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備不僅能為檢測(cè)人員提供準(zhǔn)確的依據(jù)，而且能使環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)其設(shè)備的使用壽命,在做環(huán)境試驗(yàn)時(shí)，對(duì)所需試驗(yàn)的樣品性能、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)技術(shù)要熟悉，要對(duì)所使用的試驗(yàn)設(shè)備的技術(shù)性能要熟悉，對(duì)設(shè)備的構(gòu)造要有所了解，尤其是對(duì)控制器的操作及性能要熟悉。還要仔細(xì)閱讀試驗(yàn)設(shè)備的操作使用手冊(cè)，這樣可以避免因操作失誤而引起試驗(yàn)設(shè)備的不正常運(yùn)行從而引起試驗(yàn)樣品的損壞，試驗(yàn)數(shù)據(jù)的不正確。
自八十年代以前，我國(guó)使用的大多數(shù)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備都是從西方國(guó)家引進(jìn)，價(jià)格比較昂貴，而如今，隨著環(huán)試業(yè)內(nèi)的技術(shù)發(fā)展，特別是控制技術(shù)的發(fā)展，從模擬控制到現(xiàn)在的數(shù)字控制；顯示方式從指針到數(shù)字再到現(xiàn)在的觸摸屏顯示；控制精度從±1℃提高到0.1℃甚至于0.01℃之內(nèi)；設(shè)備體積從很小的箱體，到幾百立方大的房（室），我國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家已經(jīng)能生產(chǎn)符合試驗(yàn)要求的設(shè)備。性能可以與進(jìn)口設(shè)備相媲美，而價(jià)格只有進(jìn)口設(shè)備一半左右。
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備品種繁多，但使用最廣泛的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備為高溫、低溫、濕熱試驗(yàn)箱，而現(xiàn)今比較流行是集合了高溫、低溫、濕熱為一體的試驗(yàn)箱—高低溫濕熱試驗(yàn)箱，它的修理難度較其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備大，且具有代表性。均是按照國(guó)標(biāo)GB2423 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程》而生產(chǎn)，我們最常識(shí)的如：GB10586-89《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10589-89《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。
但環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備仍是一種精密、貴重設(shè)備,正確使用和操作環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備不僅能為檢測(cè)人員提供準(zhǔn)確的依據(jù)，而且能使環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間的正常運(yùn)行和延長(zhǎng)其設(shè)備的使用壽命,在做環(huán)境試驗(yàn)時(shí)，對(duì)所需試驗(yàn)的樣品性能、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)程序和試驗(yàn)技術(shù)要熟悉，要對(duì)所使用的試驗(yàn)設(shè)備的技術(shù)性能要熟悉，對(duì)設(shè)備的構(gòu)造要有所了解，尤其是對(duì)控制器的操作及性能要熟悉。還要仔細(xì)閱讀試驗(yàn)設(shè)備的操作使用手冊(cè)，這樣可以避免因操作失誤而引起試驗(yàn)設(shè)備的不正常運(yùn)行從而引起試驗(yàn)樣品的損壞，試驗(yàn)數(shù)據(jù)的不正確。
自八十年代以前，我國(guó)使用的大多數(shù)環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備都是從西方國(guó)家引進(jìn)，價(jià)格比較昂貴，而如今，隨著環(huán)試業(yè)內(nèi)的技術(shù)發(fā)展，特別是控制技術(shù)的發(fā)展，從模擬控制到現(xiàn)在的數(shù)字控制；顯示方式從指針到數(shù)字再到現(xiàn)在的觸摸屏顯示；控制精度從±1℃提高到0.1℃甚至于0.01℃之內(nèi)；設(shè)備體積從很小的箱體，到幾百立方大的房（室），我國(guó)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備生產(chǎn)廠家已經(jīng)能生產(chǎn)符合試驗(yàn)要求的設(shè)備。性能可以與進(jìn)口設(shè)備相媲美，而價(jià)格只有進(jìn)口設(shè)備一半左右。
環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備品種繁多，但使用最廣泛的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備為高溫、低溫、濕熱試驗(yàn)箱，而現(xiàn)今比較流行是集合了高溫、低溫、濕熱為一體的試驗(yàn)箱—高低溫濕熱試驗(yàn)箱，它的修理難度較其它環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備大，且具有代表性。均是按照國(guó)標(biāo)GB2423 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程》而生產(chǎn)，我們最常識(shí)的如：GB10586-89《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10589-89《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》、GB10591-89《高/低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等。
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